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      日本otsuka大塚電子 非接觸式超高速、高精度測量晶圓和樹脂的厚度計SF-3

      更新時間:2024-03-15      瀏覽次數:622

      otsuka大塚電子 非接觸式超高速、高精度測量晶圓和樹脂的厚度計SF-3 

      光譜干涉式晶圓厚度計SF-3

      在晶圓等研磨、拋光過程中,可以非接觸式超高速、高精度測量晶圓和樹脂的厚度。

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      • 產品信息

      • 規格

      • 設備配置

      • 映射

      • 測量示例

      產品信息

      視頻 從測量到結果
       
      特征
      • 光學方法可實現非接觸式、無損厚度測量

      • 實現高測量重復性

      • 可實現高速實時拋光監控

      • 實現長WD(工作距離)并且易于集成到設備中

      • 由主機設備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進行控制

      • 可測量多層厚度

      • 能夠測量臨時晶圓(臨時鍵合晶圓)各層厚度

      5個特點

       

      測量項目
      • 厚度測量(5層)

       

      目的
      • 各種晶圓(硅及其他化合物晶圓)厚度測量

      • 融入研磨、拋光、粘合等各種工藝中

      • 晶圓以外的厚膜部件的厚度測量

       

      集成到半導體工藝中的示例
      ■ 臨時粘接



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